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Ausstattung

Das IAM-AWP verfügt über eine umfangreiche Ausstattung modernster Laserstrahlquellen für verschiedenste Bearbeitungszwecke. Zum Einsatz kommen UV-Excimerlaserstrahlquellen, Faserlaser, Festkörperlaser (Nd:YAG), CO2–Laser, Diodenlaser sowie Ultrakurzpulslaser. Zur Analyse von Bearbeitungsergebnissen kommen diverse Charakterisierungsmethoden zum Einsatz, wie z.B. Standardmethoden der Metallographie und Werkstoffprüfung, Rasterelektronenmikroskopie, Profilometrie, Raman, Röntgenbeugung, elektrochemische Analysen oder Benetzungs­untersuchungen.

 

Laserstrahlanlagen

  • 3x CO2 Laserstrahlquellen (40W-4kW)
  • 3x Nd:YAG Laser (NIR, 20W-150 W)
  • 2x Yb:YAG Faserlaser (NIR, 5ns-200 ns, 20 W))
  • UV-Nd:YAG (400ps, 355nm)
  • Hochleistungsdiodenlaser (940 nm, 50 W)
  • 5x Excimer-Laser (193 nm, 248nm, 10-80 W)
  • Ultrakurzpulslaser (UV, grün, NIR, 300fs-10ps, 20 W)

 

Ausgewählte Laserstrahlanstrahlagen

Analysemethoden

  • Oberflächenprofilometrie (Weißlicht und Laser-Profilometer)
  • Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie und EDX (Philips XL30S)
  • Materialographie und Probenpräparation (z.b. Glovebox MBraun Labmaster dp)
  • Elektrochemische Charakterisierung (Batterietester Arbin BT 2000)
  • Dynamische und statische Kontaktwinkelmessung (Dataphysics OCA 20)
  • Mechanische Werkstoffprüfung: Zugprüfung, Druckprüfung, Biegeprüfung, Scherprüfung, Hystereseprüfung (Universalprüfmaschine UTS 2)
  • UV/VIS/NIR Spektroskopie: Transmission, Reflexion (OceanOptics, Avantes, getSpec)
  • Laser induced breakdown spectrocopy (im Aufbau)

 

 

Oberflächenanalyse mit Weißlichtprofilometer

 

Kontaktwinkelmessung an laserstrukturierten Oberflächen

 

Laserstrukturiertes Haar

Spezifische Entladekapazität als Funktion der Zyklenanzahl für laserstrukturierte und unstrukturierte LiCoO2 Dünnschichten