Thermo Scientific Tals F200X TEM/STEM

Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky X-FEG Emitter mit variable Arbeitsspannung von 60, 80, 120 oder 200 kV.

Super-X EDS System mit 4 Detektoren ermöglicht schnelle Aufnahme 2d-EDX Elementverteilungsbilder. Der maximale Öffnungswinkel der Detektoren beträgt 0.9 srad.

Gatan Enfinium ER Spektrometer erlaubt EELS Analysen mit UltraFast DualEELS Option.

FEI Tecnai F20

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung.

Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF, einem ACOM Modul zur Orientation-Mapping sowie einem Zugversuchshalter und Heizelement für in-situ Zugersuche bei bis zu 1000°C

FEI Tencai F20 (Fusionsmateriallabor-FML)

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung.

Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF.

Das Mikroskop befindet sich im Kontrolbereich mit der Möglichkeit zur Charakterisierung von radioaktiven Proben und toxischen Materialien (z. B. Beryllium).

Zeiss Merlin

Rasterelektronenmikroskop (Feldemissionsquelle) mit hochauflösender Elektronensäule

Vollständiger Analytik wie EDS, WDS, EBSD (Fa. EDAX) und Plasma-Cleaner zur kontaminationsreduzierten Elementanalytik

FEI XL30 ESEM

Rasterelektronenmikroskop (LaB6 Quelle) mit Elektronensäule zur Aufnahme von Bildern in niedervakuum Bedingungen (Enviromental-SEM)