Home | english  | Impressum | Datenschutz | Sitemap | KIT

Ansprechpartner:
Dr. Michael Klimenkov
Gruppenleiter

Tel.: +49 721 608-22903
Fax: +49 721 608-24567

E-Mail: michael klimenkovIvb9∂kit edu

Transmissionselektronenmikroskope

TEM Talos
Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Talos
TEM Tecnai
Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Tecnai
TEM FML
Transmissionselektronenmikroskop FML

Thermo Scientific Tals F200X TEM/STEM

Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky X-FEG Emitter mit variable Arbeitsspannung von 60, 80, 120 oder 200 kV.

Super-X EDS System mit 4 Detektoren ermöglicht schnelle Aufnahme 2d-EDX Elementverteilungsbilder. Der maximale Öffnungswinkel der Detektoren beträgt 0.9 srad.

Gatan Enfinium ER Spektrometer erlaubt EELS Analysen mit UltraFast DualEELS Option.

FEI Tecnai F20

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung.

Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF, einem ACOM Modul zur Orientation-Mapping sowie einem Zugversuchshalter und Heizelement für in-situ Zugersuche bei bis zu 1000°C

FEI Tencai F20 (Fusionsmateriallabor-FML)

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung.

Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF.

Das Mikroskop befindet sich im Kontrolbereich mit der Möglichkeit zur Charakterisierung von radioaktiven Proben und toxischen Materialien (z. B. Beryllium).


Focused Ion Beam

Focused Ion Beam
Crossbeam-Auriga

Zeiss Auriga

Crossbeam Gerät mit 3D EBSD und 3D EDX Detektor (Fa. EDAX) sowie der Möglichkeit zur TEM Zielpräparation oder Strukturierung von Materialien (Mikrobiegebalkenherstellung).


Rasterlelektronenmikroskope

REM Merlin
Rasterlektronenmikroskop (REM) Zeiss Merlin

Zeiss Merlin

Rasterelektronenmikroskop (Feldemissionsquelle) mit hochauflösender Elektronensäule

Vollständiger Analytik wie EDS, WDS, EBSD (Fa. EDAX) und Plasma-Cleaner zur kontaminationsreduzierten Elementanalytik

FEI XL30 ESEM

Rasterelektronenmikroskop (LaB6 Quelle) mit Elektronensäule zur Aufnahme von Bildern in niedervakuum Bedingungen (Enviromental-SEM)


Metallographie

Metallographie
Metallographie

Voll ausgestattete Metallographie:

  • Lichtmikroskope (Auflichtmikroskope, Stereomikroskop) mit Software für Gefügeauswertungen
  • Makro- und Mikrohärteprüfer sowie Nanoindenter (z.B. Fa. CSM) mit automatisierter Messung
  • Präparation von Dünnschliffe für Transmissionelektronenmikroskopie
  • Präparation von metallischen Proben zur Gefüge- und Strukturanalyse für Rasterelektronenmikroskope
  • Elektro-chemische Oberflächen-Ätzungen