Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung (Fa. FEI, TECNAI F20)
Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF, einem ACOM Modul zur Orientation-Mapping sowie einem Zugversuchshalter und Heizelement für in-situ Zugersuche bei bis zu 1000°C