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Geräteausstattung

TEM Tecnai
Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Tecnai
REM Merlin
Rasterlektronenmikroskop (REM) Zeiss Merlin

Analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, 200 kV Beschleunigungsspannung (Fa. FEI, TECNAI F20)

Ausgestattet mit der Möglichkeit zur Kombination von Elektronenenergieverlustspektroskopie, EELS (Fa. Gatan) mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie, EDS (Fa. EDAX), einem High-Angle-Annular-Dark-Field Detektor, HAADF, einem ACOM Modul zur Orientation-Mapping sowie einem Zugversuchshalter und Heizelement für in-situ Zugersuche bei bis zu 1000°C


Focused Ion Beam

Focused Ion Beam
Crossbeam-Auriga

Zeiss Auriga

Crossbeam Gerät mit 3D EBSD und 3D EDX Detektor (Fa. EDAX) sowie der Möglichkeit zur TEM Zielpräparation oder Strukturierung von Materialien (Mikrobiegebalkenherstellung).


Textüberschrift

REM Merlin
Rasterlektronenmikroskop (REM) Zeiss Merlin

Rasterelektronenmikroskop (Fa. Zeiss, Merlin FEG-REM) mit hochauflösender Elektronensäule

Vollständiger Analytik wie EDS, WDS, EBSD (Fa. EDAX) und Plasma-Cleaner zur kontaminationsreduzierten Elementanalytik


Metallographie

Metallographie
Metallographie

Voll ausgestattete Metallographie:

  • Lichtmikroskope (Auflichtmikroskope, Stereomikroskop) mit Software für Gefügeauswertungen
  • Makro- und Mikrohärteprüfer sowie Nanoindenter (z.B. Fa. CSM) mit automatisierter Messung
  • Präparation von Dünnschliffe für Transmissionelektronenmikroskopie
  • Präparation von metallischen Proben zur Gefüge- und Strukturanalyse für Rasterelektronenmikroskope
  • Elektro-chemische Oberflächen-Ätzungen