Home | english  | Impressum | Datenschutz | Sitemap | KIT

Rastersondenmethoden, optische Mikroskopie und konfokale Weißlichtmikroskopie

Die rastersondenmikroskopische Untersuchung von Probenoberflächen nutzen wir für Rückschlüsse auf die lokale Verteilung von Phasen und die Defektstruktur von Grenzflächen in kleinen Probenvolumina. Mittels optischer Mikroskopie untersuchen wir Entmischungsvorgänge und Mechanismen der Spannungsrelaxation in dünnen Schichten.

  • Omicron MICRO-STM für Messungen im UHV und bei in-situ Gasbeladung
  • Omicron UHV AFM/STM für Messungen im UHV und bei in-situ Gasbeladung
  • optisches Mikroskop für „Hydrogenography“ bei elektrochemischer Beladung, bei der die charakteristische Änderung der optischen Eigenschaften von Metallen bei Wasserstoff-Beladung genutzt wird
  • konfokales Weißlichtmikroskop (Materialographisches Labor)

 

Links: Gleitstufen von Versetzungen in einer dünnen Palladium-Wasserstoff-Schicht (Scr. Mater. 64 (2011) 978, Nano Let. 16 (2016) 6207), gemessen mittels in-situ STM. Rechts: Faltenbildung in einer Wasserstoff-beladenen Palladium-Schicht (Appl. Phys. Let. 92 (2008) 051914, Acta Mat. 52 (2004) 1579), gemessen mittels optischer Auflichtmikroskopie. Unten: Magnesium-Hydrid (hell) in Magnesium-Matrix (J. Alloy. Comp. 593 (2014) 87), gemessen mittels in-situ Hydrogenography im Transmissionsmodus.