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Elektronenmikroskopische Methoden

Elektronenmikroskopie ermöglicht die hochauflösende Identifizierung von Defekten in Materialien, ihrer Geometrie und ihrer sterischen Anordnung.

  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit der Möglichkeit verschiedener in-situ Untersuchungen wie z.B. Gasbeladung; Kontakt: Dr. Dorothée Vinga Szabó, KNMF
    • FEI Tecnai F20-ST TEM
    • FEI Titan 80-300
  • Rasterelektronenmikroskopie kombiniert mit Ionenstrahl (REM/FIB) mit zusätzlichen analytischen Methoden wie z.B. EDX und EBSD; Kontakt Dr. Sabine Schlabach, KNMF
    • FEI Strata 400S Dual Beam FIB
    • Zeiss Auriga 60 Dual Beam FIB

 

HR-TEM an Nb- und µFeNb-Domänen in einer dünnen Schicht (Int. J. Hydr. En. 42 (2017) 22583).

 

STEM Abbildung und STEM-EELS an Fe2O3/Cr2O3 Core/Shell Nanopartikeln zum Nachweis der Beschichtung einzelner Fe2O3 Nanopartikel mit Cr2O3 (Rot: Fe, Grün: Cr; Solid State Sciences 83 (2018) 43-48).

 

FIB-REM „Slice&View“-Tomographie an einer Graphit-Batterie-Elektrode zur Bestimmung der Tortuosität (J. Electrochem. Soc. 165 (2018) A3156-A3163). Links: Rekonstruktionsverfahren ausgehend vom interessierenden Bereich (rot) über Bildverarbeitung und Binarisierung (Festphase: weiss, Porenraum: schwarz) bis zur 3D Rekonstruktion. Rechts: Entwicklung der richtungsabhängigen geometrischen Tortuosität mit zunehmendem Euklidischen Abstand und schematische 2D Darstellung des topologischen Skeletts (Festphase: weiss, Porenraum: schwarz, Skelett: rot). Die FIB-REM "Slice&View"-Bildstapel wurden am KIT aufgenommen, Bildsegmentierung, Rekonstruktion und Bestimmung der Tortuosität erfolgten in der AG U. Tallarek an der Philipps-Universität Marburg.