IAM - Computational Materials Science

Nanotechnologie für Ingenieure und Naturwissenschaftler

  • type: Vorlesung (V)
  • semester: WS 17/18
  • time: 19.10.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2


    26.10.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    02.11.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    09.11.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    16.11.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    23.11.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    30.11.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    07.12.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    14.12.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    21.12.2017
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    11.01.2018
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    18.01.2018
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    25.01.2018
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    01.02.2018
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2

    08.02.2018
    15:45 - 17:15 wöchentlich
    20.30 SR -1.017 (UG) 20.30 Kollegiengebäude Mathematik, Englerstr. 2


  • lecturer: Stefan Walheim
    Dr. Hendrik Hölscher
    Prof. Dr. Martin Dienwiebel
  • sws: 2
  • lv-no.: 2142861
Voraussetzungen

Vorkenntnisse in Mathematik und Physik

Literaturhinweise
  1. Tafelbilder, Folien, Skript
  2. Scanning Probe Microscopy – Lab on a Tip: Meyer, Hug, Bennewitz, Springer (2003)
Kommentarerstmalig Sommersemester 2011
Lehrinhalt

1) Einführung in die Nanotechnologie
2) Historie der Rastersondenmethoden
3) Rastertunnelmikroskopie (STM)
4) Rasterkraftmikroskopie (AFM)
5) Dynamische Messmoden (DFM, ncAFM, MFM, KPFM, …)
6) Reibungskraftmikroskopie & Nanotribologie
7) Nanolithographie
8) andere Rastersondentechniken

Arbeitsbelastung

Präsenszeit: 30 Stunden

Vor- /Nachbereitung: 30 Stunden

Prüfung und Prüfungsvorbereitung: 30 Stunden

Ziel

Der/die Studierende kann

  • die gebräuchlichsten Messprinzipien der Nanotechnologie insbesondere Raster-Sonden-Methoden erläutern und für die Analyse physikalischer und chemischer Eigenschaften von Oberflächen nutzen
  • Interatomare Kräfte beschreiben und deren Einfluß in der Nanotechnologie benennen
  • Methoden der Mikro- und Nanofabrikation sowie –lithographie beschreiben
  • grundlegende Modelle der Kontaktmechanik und der Nanotribologie beschreiben
  • wesentliche Funktionsmerkmale von Nanobauteilen erläutern und anwenden
Prüfung

Die Erfolgskontrolle erfolgt in Form eines 30 minütigen schriftlichen Abschlusstestes, dessen erfolgreiches Bestehen Voraussetzung für die Teilnahem an einer 20 minütigen mündliche Prüfung ist.

Die Note ergibt sich aus der mündlichen Prüfung.