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Ausstattung des IAM-AWP

Ausstattung am IMF I
  • Materialographische Präparation (Schneiden, Schleifen, Polieren, Ätzen) und mikrostrukturelle Charakterisierung durch Licht- und Elektronenmikroskopie

  • Rasterelektronenmikroskopie

  • Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie mit moderner Analytik (FEG, HAADF, EFTEM, EELS, EDX)

  • Rastersondenmikroskopie mit Rasterkraft-, Reibungskraft- und magnetischer Kraftmikroskopie

  • Röntgen-Diffraktometrie

  • Oberflächen- und Volumenanalytik

  • Mechanische Prüfeinrichtungen: Härte, Nano- und Mikroindentierungsverfahren, Zug- und Biegeprüfung im Mikro- und Makrobereich

  • Weißlicht-Profilometrie

  • Laserlabor mit modernsten Bearbeitungsanlagen und Strahlquellen im ultravioletten (Excimer, Nd:YAG, Diodenlaser), im sichtbaren (Nd:YAG) und im infraroten (Diodenlaser, Nd:YAG, CO2-Laser) Spektralbereich

  • Dünnschichtlabor mit modernsten Beschichtungsanlagen und Verfahren (Magnetron-Sputtern, Bogenverdampfung, plasmaaktivierte CVD)

  • Zeitstandlabors mit instrumentierten Anlagen für Prüftemperaturen bis 1300 °C

  • Materialspezifische Eigenschaftscharakterisierung: Thermophysikalische und thermodynamische, optische, mechanische, elektrische, magnetische, dielektrische und Hochfrequenz-Kenngrößen

  • Physikalisch-chemische Untersuchungseinrichtungen: Messung von Hochtemperaturreaktionen an metallischen und keramischen Materialien, Wasserstoffabsorption, -diffusion und –desorption

  • 3 elektromechanische Universalprüfmaschinen mit integriertem Ofen für Versuche in Vakuum bis 1400 °C Dauerbetrieb

  • 1 Pendelschlagwerk für Kerbschlagbiegeversuche in Atmosphäre: -190 °C bis 500 °C

  • 1 Pendelschlagwerk für Kerbschlagbiegeversuche in Vakuum bis 1100 °C

  • 30 Prüfstände für Zeitstandsversuche in Normalatmosphäre bis 750 °C

  • 20 Prüfstände für Zeitstandsversuche in Vakuum bis 800 °C

  • 1 Prüfstand für Zeitstandsversuche in Vakuum bis 1300 °C