KIT - IAM-AWPDas IAM-AWP - Laserprozesstechnik

Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)

Das IAM-AWP verfügt über eine umfangreiche Ausstattung modernster Laserstrahlquellen für verschiedenste Bearbeitungszwecke. Zum Einsatz kommen UV-Excimerlaserstrahlquellen, Faserlaser, Festkörperlaser (Nd:YAG), CO₂–Laser, Diodenlaser sowie Ultrakurzpulslaser. Zur Analyse von Bearbeitungsergebnissen kommen diverse Charakterisierungsmethoden zum Einsatz, wie z.B. Standardmethoden der Metallographie und Werkstoffprüfung, Rasterelektronenmikroskopie, Profilometrie, Raman, Röntgenbeugung, elektrochemische Analysen oder Benetzungsuntersuchungen.

Laserstrahlanlagen

Ultrakurzpulslaser (UV, grün, NIR, 280fs-10ps, 20 W, 300 W) mit Rolle-zu-Rolle Bearbeitung
UV-FK-Laser zum Laserdrucken (LIFT, Laser-induced Forward Transfer)
Excimer-Laser (193 nm, 248nm, 10-20 W)
Yb:YAG Faserlaser (NIR, 5ns-200 ns, 20 W)
Hochleistungsdiodenlaser (940 nm, 50 W; 808 nm, 100W)
CO₂ Laserstrahlquelle (40W)

Analysemethoden

Oberflächenprofilometrie und Rauheitsprüfer
Rasterelektronenmikroskopie und EDX (Philips XL30S, Phenom XL)
Materialographie und Probenpräparation (z.b. Glovebox MBraun Labmaster dp)
Elektrochemische Charakterisierung (Batterietester Arbin BT 2000)
Dynamische und statische Kontaktwinkelmessung (Dataphysics OCA 20)
Laser induced breakdown spectrocopy zur ortsaufgelösten qualitativen und quantitatvien Elementanalyse (LIBS, Secopta GmbH)
Nanoindenter (0,1-500mN, TTX-NHT3, Anton Paar GmbH)

Laseranlagen

Laserinduzierte Plasmaspektroskopie (LIBS) Kontaktwinkelmessung Weißlichtinterferometrie